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Leeb-e230涂层测厚仪

简要描述:Leeb-e230涂层测厚仪广泛地应用在电镀、防腐、航天、航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室,也可用于工程现场。配置不同的探头,适用于不同场合。它是无损检测行业的*仪器。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-05-20
  • 浏览次数:405

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详细介绍

品牌其他品牌产地类别国产
应用领域医疗卫生,环保,能源,综合

功能特点
两种工作方式:直接方式和成组方式转换
●两种测量方式:单次测量和连续测量(大面积内快速获取读数)转换公、英制转换
●开机后显示zui后一个读数
●背景照明(可选择)
●声音提示数据已读取
●可设置数据的测量范围,声音提示数据超出允许的测量范围
●具有测量数据的删除功能(删除当前测量值,删除当前组测量数据,删除当前组所有数据)
●全中文菜单
●多种校准方式
●具有手动和自动关机功能

技术参数

测头类型

Leeb-e230

测头类型

F1N1

工作原理

磁感应或电涡流

测量范围

0~1250μm

低限分辨率

0.1μm

示值误差

一点校准

±3%H+1

二点校准

±[1~3%)H+1]

测试条件

zui小曲率半径mm

1.5、凹9

zui小面积直径mm

Φ7

基本临界厚度mm

0.5

工作环境

温度

0~40

湿度

20%~90%

电源

AAA型碱性电池1.5V两节

外形尺寸

150×55.5×23mm(主机)

重量

120g

标准配置

主机、标准试片、基体、AAA型碱性电池

选配

多种探头

测头选用参考表

探头

F400

F1

F1/90

F10

N400

N1

CN02

测量原理

磁性

涡流


测量范围(μm)

0~400

0~1250

0~10mm

0~400

0~12500

10~200

测量精度μm

一点校准

±[(1~3)%H+0.7]

±(3%H+1)

±(3%H+10)

±(3%H+1)

±(3%H+1.5)

±(3%H+1)

二点校准

±(1~3%H+0.7)

±[(1~3)%H+1]

±[(1~3)%H+10]

±[(1~3)%H+1]

±[(1~3)%H+1.5]

---

低限分辨率

0.1

0.1

1

0.1

0.1

1

zui小曲率半径(mm)

(凸)1

1.5

平直

10

1.5

3

仅为平面

zui小面积直径(mm)

¢3

¢7

¢40

¢4

¢5

¢7

基本临界厚度(mm)

0.2

0.5

2

0.3

0.3

无限制















覆盖层基体

有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)

非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)

覆盖层厚度不超过100μm

覆盖层厚度超过100μm

覆盖层厚度不超过100μm

覆盖层厚度超过100μm

如铁、钢等磁性金属

被测面积直径大于30mm

F400型测头0~400μm
F1型测头

0~1250μm

F1型测头
0~1250μm
F10型测头

0~10μm

F400型测头0~400μm
F1型测头

0~1250μm

F1型测头
0~1250μm
F10型测头

0~10μm

被测面积直径小于30mm

F400型测头0~400μm

F400型测头0~400μm
F1型测头

0~1250μm

F400型测头0~400μm

F400型测头0~400μm
F1型测头

0~1250μm

如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属

被测面积直径大于10mm

N1型测头0~1250μm
N400测头0~400μm

仅用于铜上镀铬N1型测头0~40μm N400测头0~40μm

被测面积直径大于10mm

N400测头0~400μm

N400测头0~40μm

塑料、印刷线路非金属基体

被测面积直径大于7mm

--

--

CN02型测头10~200μm


*:里氏硬度计、粗糙度仪、超声波探伤仪、超声波测厚仪、涂层测厚仪、磁粉探伤仪,测振仪,内窥镜,电火花检测仪,工业测温仪,代理进口英国牛津涂层测厚仪光谱仪。


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